供应x线芯片透视仪BJI1主要针对电子元器件厂、电热丝厂、BGA、IC芯片、保险丝、电阻、线缆、冬虫夏草，半导体元器件、集成电路、电路板、电子产品内部结构是否变形、脱焊、空焊等检测；同时用于玩具厂、鞋厂、制药厂等检测. 检测鞋产品、在生产中有铁钉、断针或其它金属异物不慎脱落掉入产品内的检测；还可用于: 塑胶件、铝件内是否有气孔气泡裂纹检测,是为生产商设计的,电子产品专用检测设备。
x线芯片透视仪BJI1,仪器采用ф80平板型显像板成像，采用ф0.3微焦点管集约束。使用方便、安全、可靠。还可用于皮包、帆布包等各种箱包未指定的地方有铆针(钉)、针头等金属异物脱落其内的检测。
仪器特点
1、无需暗室，显示器同步显示观看； 2、高增益，高灵敏度，高空间分辨率，响应时间短；
3、结构简单，体积小，重量轻，可手提使用；4、射线剂量低，安全可靠，操作简便。
技术参数
1、视场：Φ80mm； 2、分辨率：56Ip/cm； 3、输出屏亮度：〉7cd/cm2 ； 4、间距：300mm；
5、管电压：0.1微焦光管70-85kv； 6、管靶流：0.3-0.5mA；
7、对比度：7%； 8、灰 度：8级； 9、漏射线：<5mR/h； 10、主机重量：6kg；
11 输出图像分辨率：1024x681 12、电源：220VAC。
11．光学放大功能，高清灰度专业图像采集,USP连接电脑,即时成像,存储和打印检测效果图片.
13、软件功能：快照，采单场，采灰度，录像，采序例，水平镜像，垂直镜像，亮度，对比度调节。 |
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